產(chǎn)品時(shí)間：2025-09-09
0D1D2D粉末衍射儀面陣光子計(jì)數(shù)X射線探測器憑借高于95%的量子效率，及其高達(dá)155×162毫米的極大有效面積，PILATUS4 R CdTe探測器可對基于從銅（Cu）到銦（In）的任何X射線源的快速數(shù)據(jù)收集。特別是對于鉬（Mo）、銀（Ag）和銦（In）輻射.
0D1D2D粉末衍射儀面陣光子計(jì)數(shù)X射線探測器
1、產(chǎn)品特點(diǎn)：
DECTRIS POLLUX 是一款實(shí)驗(yàn)室檢測設(shè)備，它改變了人們對緊湊型、高精度 X 射線探測所能達(dá)到的預(yù)期。無論您是將其集成到下一代儀器中，還是希望在實(shí)驗(yàn)室中快速進(jìn)行高質(zhì)量數(shù)據(jù)的測定， POLLUX都能夠始終如一且毫不費(fèi)力提供很好的檢測結(jié)果
POLLUX探測器在能量分辨率、計(jì)數(shù)率和有效面積之間實(shí)現(xiàn)了最佳平衡，為實(shí)際應(yīng)用性能樹立了方向。該設(shè)備憑借雙能量甄別功能和好的分辨率，能有效抑制熒光和高能背景干擾，提供更清晰的信號及更優(yōu)的峰背比。其大尺寸有效面積可捕獲更多光束并覆蓋更廣角度范圍，從而實(shí)現(xiàn)更快測量速度與更優(yōu)數(shù)據(jù)質(zhì)量。得益于出色的計(jì)數(shù)率性能，POLLUX不僅能精準(zhǔn)測量高強(qiáng)度信號，還可支持無吸收體的反射測量實(shí)驗(yàn)。
專為多功能性設(shè)計(jì)的POLLUX系統(tǒng)，從衍射到光譜分析都能實(shí)現(xiàn)。其緊湊的外形尺寸與輕松集成的特性，使其能適配各類儀器設(shè)備。憑借堅(jiān)固的電子元件與被動散熱設(shè)計(jì)，該系統(tǒng)提供了可靠性表現(xiàn).
2、核心優(yōu)勢：
出色的能量分辨率和雙能量甄別能力，可實(shí)現(xiàn)有效的背景抑制
具有2D、1D和0D讀出模式的像素探測器
有效面積大實(shí)現(xiàn)廣角覆蓋
幀速率高達(dá)400 Hz ，以實(shí)現(xiàn)快速掃描
3、應(yīng)用領(lǐng)域：
X射線粉末衍射
殘余應(yīng)力
X射線反射
波長色散X射線光譜儀
小角和廣角X射線散射
4、技術(shù)規(guī)格：
注：所有規(guī)格如有變更，不做另行通知。
0D1D2D粉末衍射儀面陣光子計(jì)數(shù)X射線探測器
